棱鏡耦合測試儀的核心優勢及產品特點

       棱鏡耦合測試儀采用棱鏡耦合方法測試樣品折射率，可測試波長633nm、935nm、1549nm處的折射率值，通過軟件做曲線耦合科求出任何波段的模擬值。

       測試儀提高了用戶友好的控制程序，和新測量的功能，允許測量從常見到特殊的薄膜而不需依靠內部系數或菜單式校準曲線，不必預先知曉厚度及折射率，±.0005常規折射率分辨率-尤其在大批量生產時比其他技術更具優勢（可獲得更高折射率），通用化-沒有固定的薄膜/基底合并菜單，可測量雙膜結構中的單膜厚度及折射率，體材料或基底材料的高精度折射率測量，快速測量薄膜或漫反射光波導參數。

       測試儀將APD和PIN-TIA的耦合測試整合于一體，方便使用，可高精度、快速檢測Vbr、響應度和接收信號強度，提供4個波長的調制光源，響應電流測試條件可以選擇加電壓Vbr-X、定點輸出X，系統自帶大尺寸液晶顯示屏。棱鏡耦合測試儀可精確顯示雪崩電壓，響應電流等性能參數并提供示波器輸出接口，方便耦合觀測，采用無極旋鈕，方便操作并帶有掉電記憶功能。

       電壓電源和加電開關具備緩沖電保護電路、防過充、反沖、ESD和浪涌等保護電路，高壓腳接地，測試雪崩電壓超過75V和TIA電流超過設置范圍會停止測試保護器件，支持上位機保存數據 并查詢，數據刷新速度達到5ms，查詢間隔10~15ms。