勞厄相機(jī)是Photonic Science公司的核心產(chǎn)品之一。近期，Photonic Science公司經(jīng)理Daniel Brau對衍射勞厄相機(jī)的工作原理進(jìn)行系統(tǒng)介紹，并且深入講解了勞厄晶體定向分析系統(tǒng)的*優(yōu)勢。
 
勞厄技術(shù)基本原理
勞厄技術(shù)基于反射幾何學(xué)，將復(fù)色的弱X射線激發(fā)源穿過探測器打到樣品上，樣品反射X射線束，形成一組衍射點(diǎn)并直接記錄在探測器上。衍射圖形的參數(shù)對于每一個晶體都是特定的，可用于材料分析和物理生長過程分析，切割具有電光特性的晶體。

中心軸校準(zhǔn)后的藍(lán)寶石樣品勞厄斑點(diǎn)

勞厄衍射到底是什么？
如果我們深入研究一下勞厄相機(jī)的物理原理，可以發(fā)現(xiàn)實(shí)際上是X射線與單晶或者合金上的電子云相互作用。如果反射光滿足布拉格定律，就會被記錄在勞厄探測器上，這是一個相對來說簡單的公式，它允許你根據(jù)晶體的特定方向來定位這些點(diǎn)。
布拉格定律：當(dāng)X射線束的入射角滿足晶面間X射線路徑長度的差值為波長的整數(shù)倍時，就會發(fā)生相長干涉，產(chǎn)生衍射光束

怎樣得到勞厄衍射圖樣？
假設(shè)實(shí)驗(yàn)時，需要沿晶體方向測量 確度＜0.1°的斜切角度。首先，通過理論模擬設(shè)計實(shí)驗(yàn)，并檢測記錄相對于理論點(diǎn)位置的偏差。PSEL勞厄軟件內(nèi)置布拉格方程，可以準(zhǔn)確計算晶格三個角軸上定位方程。

PSEL勞厄軟件

 
勞厄系統(tǒng)的主要構(gòu)架是什么？
PSEL勞厄系包含高亮度微區(qū)X射線源，低噪聲、大面積X射線探測器，以及手動或電動位移臺用于放置樣品。之前的勞厄相機(jī)多采用2kWX射線源，這需要配備復(fù)雜的冷卻裝置和耗電設(shè)備，PSEL公司的勞厄系統(tǒng)選用25瓦X射線激發(fā)源，有效解決上述問題。
 
可以簡單介紹一下勞厄系統(tǒng)嗎？
PSEL公司的勞厄相機(jī)選用更小的X射線激發(fā)光源激發(fā)樣品，可檢測亞毫米級的樣品。結(jié)合大面積、高分辨率探測器，我們可以將定向精度降到0.05°。PSEL公司的勞厄系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)設(shè)計滿足晶片、大型鑄錠以及渦輪合金等更大的部件使用需求。

垂直勞厄系統(tǒng)

 
PSEL公司的勞厄相機(jī)和市場上的其他相機(jī)還有什么不同？
PSEL公司的勞厄相機(jī)的X射線激發(fā)源的光束尺寸遠(yuǎn)小于市場上的其他相機(jī)，因此可以用于分析晶粒的結(jié)構(gòu)/方向。該系統(tǒng)可以自動獲取多達(dá)10000個大型多晶樣品的取向測量，在太陽能電池方面，有助于了解晶粒取向?qū)﹄姵匦实挠绊憽?/span>
  

多晶硅晶片掃描器
 

為什么要選用PSEL勞厄相機(jī)配件？
PSEL勞厄相機(jī)可以根據(jù)客戶的環(huán)境和要求定制。可提供系統(tǒng)解決方案，例如：樣品架、角度計、掃描臺等，方便用戶在轉(zhuǎn)移到合適的切割工具前，對晶體進(jìn)行常規(guī)校準(zhǔn)。
探測器材料如CdTe，GaAs，微電子基片如GaN，壓電材料和硅片切割可實(shí)現(xiàn)批次自動測量。PSEL勞厄相機(jī)提供的樣品架可通過軟件一次性采集多達(dá)100個樣品。
PSEL勞厄相機(jī)可容納10-100kg樣品，可用于激光材料，大體積藍(lán)寶石等樣品檢測。
PSEL勞厄相機(jī)配置多點(diǎn)掃描程序的高精密位移臺，可以實(shí)現(xiàn)對氮化鋁等薄膜方向的控制。
 
勞厄晶體定向系統(tǒng)

 
您還有什么感興趣的嗎？
PSEL公司初期是為科研客戶提供相機(jī)，通過多年的市場推廣，已經(jīng)能面向工業(yè)客戶為其提供系統(tǒng)解決方案。不同于老式昂貴的勞厄相機(jī)，本產(chǎn)品是為工業(yè)定制，目前已有超過200個系統(tǒng)在運(yùn)行。

如果您對Daniel的問答環(huán)節(jié)感興趣，想了解更多關(guān)于我們勞厄相機(jī)的信息，可聯(lián)系我公司：北京先鋒泰坦科技有限公司！