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棱鏡耦合測試儀測量原理及應(yīng)用領(lǐng)域
更新更新時間：2022-06-13 點擊次數(shù)：1224
棱鏡耦合測試儀主要用于電解質(zhì)和聚合物膜的厚度、折射率和波導(dǎo)參數(shù)的快速測量，適用于薄膜厚度在2-100µm的聚合物材料、硅基氧化膜、硅基玻璃膜，在干涉條紋產(chǎn)生的基礎(chǔ)上通過改變角度產(chǎn)生干涉條紋的方法。對于厚膜折射率的測量，單色光被直接照射到被測樣品上，這樣，從薄膜表面反射回來的光的干涉小值就會發(fā)生變化，光的入射角也會發(fā)生變化。
測量原理：
待測樣品通過一個空氣作用的耦合探頭與棱鏡基座接觸，在薄膜與棱鏡之間產(chǎn)生一個空氣狹縫。一束激光光束照射到棱鏡基座上，通常會在基座上全反射進入光電探測器。在某一些入射角，稱為模式角，光子向下穿過空氣狹縫進入薄膜，進入一種被引導(dǎo)的光傳播模式，使到達探測器的光強度大幅降低。
棱鏡鏡片的厚薄差較大，在焦度計上打點和檢測時需將棱鏡jian端稍抬起，使鏡片的前表面處于水平位置，因為棱鏡鏡片在磨邊裝配過程中。考慮到美觀等因素，尖邊位置往往在厚端的靠外處，也就是說鏡片的外表面比里面更接近于水平線，因而在鏡片的視軸也更接近于外表面的光軸，而不是里表面的光軸，所以這個方向的度數(shù)應(yīng)是實際有效距離，也就是說，焦距在這個方向的測量值為實際有效距離。
該儀器可測量薄膜/基底的類型，硅襯底上幾乎任何透明或半透明材料的氧化物、氮化物、介質(zhì)、聚合物或薄膜。可測量的薄膜/襯底類型：氧化物、氮化物、介電材料、聚合物、或硅襯底上幾乎任何透明或半透明材料的薄膜。
棱鏡耦合測試儀主要應(yīng)用領(lǐng)域：
1、光波導(dǎo)器件；
2、激光晶體材料；
3、聚合物材料；
4、顯示技術(shù)材料；
5、光/磁存儲材料；
6、光學(xué)薄膜。
