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產品中心光度色度LCD/OLED缺陷自動光學檢測系統OLED/QLED 發光器件壽命測試系統
產品型號：
更新時間：2025-11-08
廠商性質：代理商
訪問量：3219
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32 路系統 64 路系統
OLED/QLED 發光器件壽命測試系統
項目 | 關鍵指標 | 備注 |
通道數量 | 32、64、128 | 可擴展到512 路 |
測量模式1 | 恒流、恒壓、恒亮度 | 需根據客戶需求選定 |
測量模式2 | Pulse 電壓、Pulse 電流 | 選配 |
電流輸出 | 0.03uA~100mA，精度優于±1% | 用戶參照核心技術電流源選配 |
電壓輸出 飽和亮度 | 1.0~20V，精度<±1% 通常10000cd/m2 以上 | 標配 可根據客戶需求定制 |
器件結構 | 底發光、頂發光、倒裝、正裝 | 需根據用戶需求定制 |
測試盒/ 夾具 | 測試基片尺寸 5cm×5cm | 可定制支持20cm×20cm |
高溫測試 | RT+10 度~100 度；-50 度~100 度；環境測試 | 選配 |
特殊條件 | 特殊氣氛測試；手套箱測試；UPS 電源等 | 選配、定制 |
軟件平臺 | LabView | 穩定、高效 |
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