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激光光束波前分析儀
美國LUMETRICS公司自主研發的CLAS-2DTM系列波前分析儀（CLAS-2D™ , CLAS-XP™, CLAS-HP™, CLAS- NearIR-320™, CLAS-NearIR-640™）能夠快速、簡單、準確的測量激光光束的波前相位參數，例如波前傾斜，峰谷誤差，均方根波前誤差，像散，球差，聚焦誤差/準直。
LUMETRICS公司的波前分析儀是集四波橫向剪切干涉儀，光束質量分析儀，自準直儀和四象限探測器為一體的快速、緊湊型波前分析儀器。運用*的算法能夠測量三個波段的波前參數：300nm -1100 nm, 1100nm - 1700nm和8 um- 9.2 um。
另外, 美國LUMETRICS波前傳感器生產廠家具有雄厚的技術研發實力，能為客戶提供的各種自適應光學系統OA-SYS(Adaptive Optics Loops)，制定個性化解決方案。可根據客戶的應用需求，為客戶推薦zui合適的波前傳感器、可變形鏡或空間光調制器、自適應光學系統操作軟件等。
激光光束波前分析儀產品特點：
CLAS-2DTM系列波前分析儀具有高分辨率、消色差、高靈敏度、高動態檢測范圍、操作簡便等*的優勢。為波前像差、波前畸變的檢測以及激光光束及波前的測量、分析，眼科虹膜定位波前像差引導等提供了全新的解決方案！LUMETRICS波前探測器配套的軟件界面友好，可直觀的輸出高分辨率相位圖和光束強度分布圖。
應用范圍：
Ø 激光、天文、顯微、眼科等復雜自適應光學系統波前像差檢測
Ø 激光光束性能、波前像差、M2、強度等的檢測
Ø 紅外、近紅外探測
Ø 平行光管/望遠鏡系統的檢測與裝調
Ø 衛星遙感成像、生物成像、熱成像領域
Ø 球面、非球面光學元器件檢測 (平面, 球面, 透鏡)
Ø 虹膜定位像差引導
Ø 大口徑高精度光學元器件檢測
Ø 激光通信領域
Ø 航空航天領域
