動(dòng)態(tài)干涉儀有別于基于傳統(tǒng) Fizeau 干涉儀的方法，采用位相檢測(cè)方法直接構(gòu)建的動(dòng)態(tài)干涉 儀既不需要移動(dòng)待測(cè)元件多次曝光，也不需要采用偏振等復(fù)雜的光學(xué)手段，針 對(duì)待測(cè)元件進(jìn)行一次測(cè)量即可獲得其反射面型或透過(guò)波差。